Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Электронная книга
- Автор: И. О. Атовмян
- Издатель: Синергия
- Год: 2014
- ISBN:
- Цена: 152 Руб.
Знание - несокрушимая сила, и книга - лучший кладезь знаний. И идеальный спутник в пути! И это хороший экземпляр такой литературы, что способствует расширению кругозора и помогает человеку познать, изменить и улучшить свой мир - "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств"
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Уверены, что "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств" даст вам ценные сведения и поможет изменить и лучше узнать многие вещи из определенной области знаний.